賽默飛Apreo掃描電鏡隔振方案-ARISMD主動(dòng)隔振系統(tǒng)

賽默飛Apreo S掃描電鏡主動(dòng)隔振系統(tǒng)

ArisMD300主動(dòng)隔振系統(tǒng)

ARISMD主動(dòng)隔振系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于賽默飛電鏡,ThermoFisfer賽默飛球差矯正透射電鏡、ThermoFisfer賽默飛透射電鏡、ThermoFisfer賽默飛掃描電鏡、ThermoFisfer賽默飛聚焦離子束FIB.....

精密振動(dòng)控制助力賽默飛電鏡實(shí)現(xiàn)最精密測(cè)試、實(shí)現(xiàn)納米級(jí)成像


背 ? ? ? 景:應(yīng)用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡成像檢測(cè),是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái)。

使用單位:廈門稀土材料研究所

地 ? ? ?點(diǎn):福建省廈門市集美區(qū)兌山西珩路258號(hào)

儀器型號(hào):FEI Apreo S LoVac

隔振方案:ArisMD300主動(dòng)隔振系統(tǒng)


ARISMD300主動(dòng)隔振臺(tái).jpg

廈門稀土研究所賽默飛Spreo S SEM01.jpg

FEI Apreo S LoVac場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡ArisMD300主動(dòng)隔振系統(tǒng)應(yīng)用安裝圖


成像測(cè)試:


Spreo S SEM成像圖01.jpg

Spreo S SEM成像圖02.png


Apreo S 電鏡掃描圖像65萬(wàn)倍對(duì)比(安裝ArisMD300前后)

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